IC-clips

Testclips voor IC's worden meestal gebruikt tussen een IC-chip en een meetapparaat om een tijdelijke elektrische verbinding tot stand te brengen. Artikelen in deze familie zijn voorzien van een veer en hebben meerdere contactpunten die zijn ontworpen om te worden bevestigd aan de kabels van een IC. De typen IC's zijn DIP, LCC, PLCC, QFP, SOIC en SSOP, waarbij het aantal posities varieert van 8 (1 x 8 of 2 x 4) tot 240 (17 x 17).